Anotacija

Knygoje pateikiama medžiaga aprėpia sparčiųjų integrinių grandynų (IG), skaitmeninių-analoginių keitiklių (SAK) ir analoginių skaitmeninių keitiklių (ASK) vertinamojo bandymo ir parametrų nustatymo problemas.Elektroninių sistemų testavimas padeda užtikrinti gaminamų sistemų kokybę ir naudojimo patikimumą. Tai svarbus uždavinys šių sistemų gamybos procese. Dabar praktikoje labai plačiai naudojami skaitmeniniai integriniai grandynai (SIG) ir integriniai informacijos keitikliai – skaitmeniniai-analoginiai (SAK) bei analoginiai-skaitmeniniai (ASK). Šių įrenginių vertinamojo bandymo problemos sudėtingos, būtini specialūs metodai bei įranga.